探傷實(shí)驗(yàn)也稱為探傷檢測，是指探測金屬材料或部件外部的裂紋或缺點(diǎn)。 探傷實(shí)驗(yàn)常用的探傷辦法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲入滲出探傷（著色探傷）、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷等辦法。 此中： 磁粉探傷： 它的根本道理是：當(dāng)工件磁化時(shí)，若工件外面有缺點(diǎn)存在，因?yàn)槿秉c(diǎn)處的磁阻增大而發(fā)生漏磁，構(gòu)成部分磁場，磁粉便在此處表現(xiàn)缺點(diǎn)的外形和地位，從而斷定缺點(diǎn)的存在。磁粉探傷是用來檢測鐵磁性材料外面和近外面缺點(diǎn)的種檢測辦法。 超聲波探傷： 超聲波在介質(zhì)中流傳時(shí)有多種波型，查驗(yàn)中常用的為縱波、橫波、外面波和板波。用縱波可探測金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和外形比擬簡略的制件中所存在的夾雜物、縫隙、縮管、白點(diǎn)、分層等缺點(diǎn)；用橫波可探測管材中的周向和軸向縫隙、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、縫隙、未焊透等缺點(diǎn)；用外面波可探測外形簡略的制件上的外面缺點(diǎn)；用板波可探測薄板中的缺點(diǎn)。 X射線探傷： 電離感化 x射線或別的射線(比方γ射線)經(jīng)由過程物資被接收時(shí)，可以使構(gòu)成物資的份子分化成為正負(fù)離子，稱為電離感化，離子的若干和物資接收的X射線量成正比。經(jīng)由過程氛圍或別的物資發(fā)生電離感化，應(yīng)用儀表丈量電離的水平就能夠盤算x射線的量。檢測設(shè)備恰是由此來完成對(duì)整機(jī)探傷檢測的。X射線另有其余感化，如感光、熒光感化等。