它表征儀器分辨M和M+AM兩個相鄰峰的能力，通常用M/AM表示。由于作為殘氣分析的真空質(zhì)譜計不需要很高分辨本領(lǐng)，所以，通常在10%或50%峰高處確定參考基線來測量AMo特殊使用條件下，可在5%或1%峰高處確定參考基線來測量AMo由于峰形對分辨本領(lǐng)測量影響很大，僅用50%峰高處的參考基線確定AM并不恰當(dāng)，為此用峰形系數(shù)加以限制，峰形系數(shù)(AMio%/AMso%)不得大于2.080不同定義下測試的分辨本領(lǐng)可按公式(12-72)